擊穿電壓、漏電流、閾值電壓（可兼容JEP183 VT測試方法）、導(dǎo)通壓降、導(dǎo)通電阻、柵漏電、Gfs、Vp、Ciss/Coss/Crss/Rg、Kelvin測試等；

最大測試電流能力：2000A，標準設(shè)備最大測試電壓能力：3000V；

溫控范圍：-55℃-200℃，可同時具備低溫和高溫測試能力；

支持各種IGBT和SiC模組封裝和拓撲類型產(chǎn)品，如單管、半橋、全橋、三相橋、三電平、IPM等，最多可支持18個IGBT自動切換測試；

高壓CP測試：8kV/200A；

DBC/AMB測試：可支持抽真空充高壓氮氣，防氧化、防打火； 

支持SECS/GEM通訊協(xié)議。

極高的測試精度、測試效率、一致性和可靠性；

經(jīng)過多個車規(guī)級模塊頭部廠家大量測試驗證；

滿足半自動和全自動測試；

可連全自動探針臺（Formfactor/TSK/Sidea）完成CP測試。