智能環(huán)境老化測試系統(tǒng)HTXB&H3TXB
該系列產(chǎn)品是智能功率半導體器件環(huán)境老化試驗設備。主要用于功率半導體器件的環(huán)境老化試驗，比如Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的HTRB/HTGB/H3TRB/HV-H3TRB測試。
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6500VHTRB及加柵壓HTRB最大電壓
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100VHTGB，可檢測到pA級柵電流，最大電壓
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小于同行的2/3HTXB占地面積
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產(chǎn)品測試能力與主要優(yōu)勢
一臺設備可集成HTRB/HTGB/H3TRB/HV-H3TRB試驗功能；
HTRB及加負柵壓HTRB，最大電壓6500V；
HTGB，可檢測到pA級柵電流，最大電壓100V；
HTXB占地面積小于同行的2/3。
HTXB
H3TXB
HTXB-SE
H3TXB-SE
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